제품 정보
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- 열전냉각
- 반도체 검사 장비
- D-Ram, NFM 검사장비
반도체 검사 장비
[수출용]
[내수용]
그간 DDR2, DDR3의 각종 온도시험을 수행했던 chamber방식의 단점을 개선한 장비로서 최근 DDR4의 검사까지 가능한 장비입니다. 빠른 Test time(20℃ → 60℃, 120초 이내), 생상량 증가, 최소의 유지경비, 뛰어난 생산성을 기반으로 국내의 반도체 업계에 공급되어 기존의 챔버방식과는 차별화된 여러가지 장점(생산성, 유지비, 가격)을 가지고 필드에서 호평을 받는 장비입니다. DDR2, DDR3까지 다양하게 test 할 수 있는 장비로서 공정의 단순화와 고생산성을 이룰 수 있습니다.
제품의 사양(SPEC)
| 품명 | MTC-2000A | |||
|---|---|---|---|---|
| 제품의 용동 | DRAM, NANO, FLASH, MEMORY의 온도 테스트 | |||
| 일반사항 | 사용 주위 온도 | 22℃ | ||
| 사용 주위 습도 | 40~ 80% | |||
| 인입전력 | AC 220V | |||
| 가열 냉각 방법 | HEATER & TEC가열, TEC냉각 | |||
| 가열 냉각 대상 | DDR2, DDR3, DDR4 및 낸드플래시메모리 | |||
| 기기성능 | 온도범위 | 냉각 시 | 20℃ | |
| 가열 시 | 90℃ | |||
| 냉각능력 | 최대 100 Watt/sec | |||
| 가열능력 | 최대 720 Watt/set | |||
| 도달속도 | 가동 후 120초 이내 | |||
| 기타사항 | 제품크기 | 2100 × 1520 × 800mm | ||
| 제품중량 | 200kg | |||
| 안전장치 | 3중 안전 장치 | |||
