회사소개

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  • 반도체검사장비 (Dram, NAnd Flash Memory)
    Memory Module Temp test SYSTEM

    반도체의 최종 생산품인 메모리모듈(nand flash memory , dram)의 온도부하 시험 검사 장비입니다. 반도체의 최종 생산품인 메모리모듈(nand flash memory , dram)의 온도부하 시험 검사 장비입니다.반도체의 최종 생산품인 메모리모듈(nand flash memory , dram)의 온도부하 시험 검사 장비입니다

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    Memory Module Temp test SYSTEM

    반도체의 최종 생산품인 메모리모듈(nand flash memory , dram)의 온도부하 시험 검사 장비입니다.